Meetings participation

  • García Moreno, E.; Segura, J.; Roca, M.; Isern, E.; Picos, R.. , "Herramientas para el desarrollo del test en circuitos integrados mixtos analógico/digitales". "1er Seminario del programa nacional de tecnologías de la información y las comunicaciones TEDEA 2000", Ciudad Real, Spain, 2000. Publication data: pp: 50-54. Paper presentation.
  • Picos, R.; Colom, J.; Roca, M.; Isern, E.; Segura, J.; Calvo, O.; García Moreno, E.. , "Transient current monitoring using a current to frequency converter". "1st IEEE Latin American Test Workshop", Rio de Janeiro, Brazil, 2000. Publication data: pp: 54-58. Paper presentation.
  • Picos, R.; Roca, M.; Iñíguez, B.; García-Moreno, E.; Calvo, O.. , "Characterisation of radiation effects on MOSFET using Genetic Algorithms (comunicación oral)". "3rd IEEE Int. Caracas Conference on Devices Circuits and Systems, ICCDCS'00", Cancun, Mexico, 2000. Paper presentation.
  • R.Picos, J. Colom, M.Roca, E. Isern, J. Segura, O. Calvo, E. García-Moreno. , "A New idd(t) Sensor Based on Switched-Current Integration". "Design of Circuits and Integrated Systems DCIS'00", Montpellier, France, 2000. Publication data: pp: 770-774. Paper presentation.